-
详细信息
LANGER E1 抗干扰开发系统 现货 使用方法 促销 求购
产品介绍： 如果电子模块和设备在burst和ESD脉冲测试中发生功能失效，那么被测设备（EUT）进行修改。E开发系统被用于和的确定EUT内功能失效的原因，用户能够找出多少以及为什么立的导线和元件被影响，这允许用户直接在电路上或在布局布线中进行适宜的纠正行为。SGZ 21 burst产生器可以产生的测试脉冲，这些脉冲通过导线连接或通过磁场或电场源被耦合到EUT中，在测试过程中，通过一个传感器和EUT内部测量得到的干扰电流，信号可以被监视。 包括： Burst产生器SGZ 21 带有OFP的EMC传感器S31 磁场探头MS 02 磁场源探头BS02 磁场源探头BS 04 DB 磁场源探头BS 05 D 磁场源探头BS 05 DU 电场源探头ES 00 电场源探头ES 01 电场源探头ES 02 电场源探头ES 05 D 电场源探头ES 08 D 附件 使用说明 带有泡沫塑料填充的包装箱
-
您可能感兴趣
-
产品搜索
